El parque ofrece espectáculos, desfiles y encuentros con personajes de DC los días 20 y 21 de septiembre
Parque Warner Madrid celebrará este fin de semana el Batman Day, uno de los días internacionales más populares entre los fans del universo DC. Durante el 20 y 21 de septiembre, el parque rendirá homenaje al Caballero Oscuro con una programación especial repleta de acción, diversión y personajes icónicos.
Como gran novedad, el sábado estará presente Claudio Serrano, la voz de Batman en la trilogía de Christian Bale. Ofrecerá una entrevista en directo, una ronda de preguntas y un taller de doblaje en el Teatro Chino del parque. El encuentro incluirá premios, sorpresas y un photocall con Batman y Claudio Serrano para el público. El acceso será gratuito hasta completar aforo.
Además, el parque contará con una exposición exclusiva de coches míticos de Batman. También ofrecerá espectáculos como el Gotham City Stuntshow, un show de acción en vivo en la Plaza del Ayuntamiento de Gotham City, dentro de la zona DC Superheroes World.
La programación incluye también el desfile «Superstars Parade», que recorrerá el parque con la presencia de personajes del universo DC. Estará acompañado de música y coreografías para todos los públicos.
Durante ambos días habrá encuentros y sesiones de fotos con Batman, Catwoman, Joker, Harley Quinn, Hiedra Venenosa y Pingüino. También estarán los Superhero Looney Tunes, con Bugs Bunny, Piolín y otros amigos transformados en superhéroes. Además, participarán Ace de DC Liga de Supermascotas y otros miembros de la Liga de la Justicia.
Para quienes busquen adrenalina, Batman también será protagonista de la atracción Batman Gotham City Escape. Es una montaña rusa de más de 100 km/h con 4 inversiones que comienza en la mansión Wayne y sumerge a los visitantes en una historia de acción entre Batman y Joker.
Parque Warner Madrid promete así un fin de semana inolvidable con espectáculos, acción y encuentros únicos con los héroes y villanos del universo DC. Más información en la web de Parque Warner.
